logologo-text
Два дня патентной аналитики

24 ноября, 2021

image

Read 1 minute

В «Сириусе» прошёл Международный форум «Два дня патентной аналитики», в котором приняли участие бауманцы.

Ребята узнали о потребностях бизнеса и лучших практиках в области современной патентной аналитики от ведущих российских и зарубежных экспертов и топ-менеджеров отраслевых компаний.

В мероприятии приняли участие студенты и сотрудники МГТУ:

  • Василий Сегалов, Анна Покровская, Татьяна Галушко, Данил Богданов — магистры кафедры ЮР (они обучаются по уникальной программе «Управление интеллектуальной собственностью»);
  • Герман Янгалин — студент факультета РКТ;
  • Алексей Подчуфаров — выпускник МГТУ, сотрудник кафедры ЭМ;
  • В качестве лектора выступала Дарья Павликова — аналитик проектного офиса ФИПС, магистр кафедры ЮР.

В первый день форума были проведены лекции-интенсивы на тему основ патентной аналитики, а во второй день участников поделили на группы, в которых они занимались разработкой патентного ландшафта и затем защищали свои проекты.

Благодаря наличию патентного ландшафта можно предсказывать рынок, а для стартапов будет плюсом разрабатывать его для той сферы, в которой стартап развивается, это может сильно помочь в получении больших инвестиций.

По итогам защиты Герману Янгалину предложили стажировку в Федеральном институте промышленной собственности (ФИПС). Напомним, что Герман обучается только на первом курсе, а уже делает невероятные успехи!

Организаторами Форума выступили Роспатент, Федеральный институт промышленной собственности (ФИПС), Образовательный центр "Сириус"  и другие крупные площадки.

Поздравляем наших ребят с получением нового опыта и отработки профессиональных инструментов!